设计和测试工程师们现在可以使用美国国家仪器公司（National Instruments，简称NI）最新推出的PCI版本的PXI-5922可变分辨率数字化仪（也称为基于PC的示波器）可以实现较大动态范围的测量。PXI-5922数字化仪提供目前市场上数字化仪产品中最高的动态范围，这一具有无与伦比动态性能和灵活性的通用仪器现在正式推出PCI版本，适用于包括通讯、半导体、生化以及超音速非破坏性测试(ultrasonic nondestructive test，NDT)的许多领域。
不同于传统示波器或其他基于PC的数字化仪在所有采样率上具有固定的分辨率，NI 5922数字化仪使用NI Flex II ADC技术，具有灵活的、用户自定义的分辨率，并可在24位（500 kS/s）到16位（15 MS/s）之间任何一点进行采样。NI Flex II ADC是一个加强的多位delta-sigma转换器，它结合了专利技术，极大地降低了由多位转换器中非线性造成的谐波，因此即便在高采样率的情况下也可以获得很好的动态范围，可以帮助设计和测试工程师们直接数字化底层信号，而无需外部信号调理（例如滤波器和低噪声放大器）。减少信号调理可以改进测量精度和可靠性，同时还能节省测试系统的开发时间和成本。由于这项专利技术的应用，PXI-5922可变分辨率数字化仪已经获得了多个国际专业奖项，包括《Test & Measurement World》杂志的2006年度测试类产品，以及《EDN》杂志2005年度最热门百佳产品奖。
工程师们借助使用PXI-5922数字化仪，已经解决了许多要求很高的应用，例如高端音频和超声波测试、高分辨率数－模转换器的特性描述，以及基带I/Q分析等。举例来看，Analog Devices公司使用NI PXI-5922数字化仪来为他们高分辨率的数字至模拟转换器(DAC)确定稳定时间，“我们选择NI PXI-5922数字化仪是因为其前所未有的动态范围，过滤噪声后我们可以精确地测量稳定时间。” Analog Devices设计评估工程师Eoin English表示“这是市场上唯一一款具备高输入电阻和高动态范围的产品，帮助我们轻松地通过NI LabVIEW软件进行配置和控制，缩短了产品开发时间。”
和其他NI数字化仪一样，工程师们可以使用这一全新的可变分辨率数字化仪，任意波形发生器和数字波形发生器/分析仪在产品开发的任何一个阶段（从设计验证到生产测试）创建混合信号应用。设计和测试工程师们可以使用NI数字化仪，例如NI 5124 200 MS/s 12位数字化仪、NI 5122 100 MS/s 14位数字化仪以及NI PXI-5114 250 MS/s 8位数字化仪等，配合50多个内置于NI-SCOPE驱动软件的测量例程快速开发测量系统。所有的NI数字化仪都配备有该驱动软件，并可与NI LabVIEW图形化开发环境、NI SignalExpress交互式测量软件、用于Microsoft Visual Studio .NET的NI Measurement Studio和NI LabWindows/CVI ANSI C开发环境协同工作。请访问ni.com/china/mi，了解更多NI模块化仪器产品信息。
