大功率2651A型数字源表进一步丰富了2600A系列产品。该源表专门针对大功率电子器件的特性分析和测试而优化设计，可帮助用户在研发、可靠性及生产领域提高生产力，包括高亮度LED、功率半导体、DC/DC转换器、电池，以及其他大功率材料、元件、模块和组件的特性分析和测试。
与2600A系列产品的每个成员一样，2651A具有高灵活性、四象限电压和电流源/负载，组合了精密电压和电流表。该源表可作为：
@半导体特性分析仪器
@电压或电流波形发生器
@电压或电流脉冲发生器
@精密电源
@真电流源
@数字多用表(直流电压，直流电流，电阻和功率，分辨率达5½位)
@精密电子负载
突破性特性利益
两种测量模式：
@数字化模式，18位A/D转换器
@积分模式，22位A/D转换器 捕获瞬态行为，例如正在变化的热效应，采样率达1μs/点(1MHz)。
提供极其准确和可复现的测量结果
@双A/D转换器用于每种测量模式 完全同时对电流和电压波形进行特性化和测量
@全隔离的独立通道，500ns同步 提供更简捷、更快速且更灵活的连接和接地机制，实现SMU-per-pin测试
@业界最宽的动态范围，用于电流源出和测量：1pA至50A (两台仪器时达100A) 测试各种各样的功率半导体和其他器件
Part II 2651A的特性
两种测量模式：数字化或积分
2651A型有两种测量模式可对瞬态和稳态行为进行精密地特性分析，包括快速变化的热效应。每种模式均由其独立的模/数(A/D)转换器定义。
在数字化测量模式下，连续进行1μs/点采样，每秒可捕获1,000,000个读数。其18位A/D转换器使用户能够精密测量瞬态特性。对于更准确的测量，可利用基于22位A/D转换器的积分测量模式。全部2600A系列仪器均具有积分测量模式。
每种测量模式下使用两个A/D转换器(一个用于电流，另一个用于电压)，可同时运行用于准确源读回，不会影响测试效率。
双数字化A/D转换器以高达1μs/点速率进行连续采样，同时对电流和电压波形进行特性分析。
高速脉冲
2651A型能够准确输出和测量短至100μs的脉冲，将测试期间的自热效应影响降至最低。更大的控制灵活性使用户能够在100μs至DC范围内编程脉宽，在1%至100%范围内编程占空比。单台仪器可输出高达50A电流脉冲，两台组合可输出高达100A电流脉冲。
扩展能力
利用TSP-Link®，可将多台2651A和其他2600A系列仪器组合在一起，形成最多64路通道的更大集成系统。利用内置500ns触发控制器，确保精密定时和严格通道同步。源表仪器的完全隔离、独立通道确保了真正的SMU-per-pin测试。
吉时利的TSP和TSP-Link技术确保实现真正的SMU-per-pin测试，不存在基于主机系统的功率和/或通道限制。
此外，两台2651A型采用TSP-Link并联时，电流量程从50A扩展至100A。当两个单元串联时，电压范围从40V扩展至80V。内置智能特性使多个单元可作为单台仪器进行寻址，简化了测试，由此形成业内最佳的动态范围(100A至1pA)。这种能力确保用户可测试各种各样的功率半导体和其他器件。
高达50A (2个单元可达100A)的精密测量确保更完善和准确的特性分析。
1μV测量分辨率和高达50A (2个单元可达100A)的电流源输出确保低电平Rds测量，支持新一代器件。
2600A系列仪器的标准能力
每款2651A均具备其他2600A系列仪器提供的全部特性和能力，包括：
@既可作为台式I-V特性分析工具，又可作为多通道I-V测试系统的组成部分。
@无需编程或安装，TSP Express软件即可快速、简便地执行常见的I-V测试。
@ACS基本版软件，用于半导体元器件特性分析(选件)。ACS基本版软件现在具备一种Trace模式，用于产生一套特性曲线。
吉时利的TSP®(测试脚本处理器)软件，能够创建用户自定义测试脚本，实现自动化程度更高的测试，并且支持创建编程序列，使仪器在没有PC直接控制的情况下异步工作。
@多台2600A系列仪器连接在一个系统中，实现并行测试和精密定时。
@符合LXI class C标准。
@14位I/O线，与探针台、元件装卸装置或其他自动化工具直接交互。
@USB端口，利用USB存储装置实现更大的数据和程序存储空间。
Part III 2651A的应用领域
轻松支持当今具有挑战性的应用：
@功率半导体、HBLED和光器件特性分析和测试
@GaN、SIC及其他复合材料和器件的特性分析
@半导体结温特性分析
@高速、高精度数字化
@电迁移研究
@大电流、大功率器件测试
1.每种测量模式下使用两个A/D转换器(一个用于电流，另一个用于电压)，可同时运行用于准确源读回，不会影响测试效率。
当用于一个系统时，全部2600A系列的通道以500ns同步，实现真正的SMU-per-pin测试，主机不存在功率或通道限制。
2.将热效应降至最小，准确特性分析半导体结温效应
准确源出和测量短至100μs的脉冲，并且脉冲从100μs至直流、上升时间从25μs、占空比从1%至100%可编程。
捕获快速变化现象，速率达1,000,000读数/秒，连续1μs/点采样。
3.提高试验可靠性和可重复性
精密定时和严格的通道同步对当今的测试要求至关重要。2651A型具有一款高性能触发型号，精确控制每一源测量步骤的定时。它还严格同步通道之间和/或其他2600A系列仪器之间的工作，采用TSP-Link，硬件速度<500ns。更重要的是，SMU-per-pin测试防止测量和负载信号失真。这些功能可帮助您提高吞吐量，降低可能损坏DUT的影响，并获得高准确度和可复现的测量结果。
4.快速、简便地执行I-V测试
无需编程或安装，TSP® Express软件工具即执行常见的I-V测试。嵌入式测试脚本处理器(TSP®)使用户能够创建仪器可直接运行的脚本，进一步提高测试自动化。
该TSP Express测量屏幕所示为利用两台2651A单元并联获得100A脉冲能力。能够以图形或表格格式查看结果，然后导出至.csv格式文件，可用于电子表格软件。
从基本测试到高级测试，利用TSP Express都能快速、简便的配置。
