美国俄亥俄州克里夫兰市及德克萨斯州理查森市2003年9月16日报导— Keithley仪器公司（NYSE:KEI）与Zyvex公司于日前签订了合作协议以共同开发适用于纳米技术市场的新的解决方案。协议的前者是世界领先的低电平电子测量仪器的制造商，而后者则是世界知名的私营纳米技术公司并在分子组装领域享有盛誉。根据此协议，双方将分享市场、销售、应用工程资源，以结合Zyvex的纳米控制器技术与Keithley的超低电平测量技术并提供新的解决方案。
在纳米科学应用中，Keithley提供的低电平测量技术是至关重要的。纳米器件都非常小，这就意味着它们产生的电子信号通常很低。要对这些信号进行精确的测量需要高灵敏度、高分辨率的仪器，如Keithley生产的精密静电计、皮安表和纳米伏特计系列产品。大多数Keithley已经开发的在晶片水平量测半导体设备和测试结构的技术，包括4200-SCS型半导体量测系统，都适用于纳米技术。
4200-SCS型的毫微微安培电流测量分辨率以及即用式操作是在开发纳米设备的制造部门和实验室工作的研究人员的理想选择。它的嵌入式的基于Windows® NT的工作站以及功能强大的Project Navigator软件加速了设备测试的开发、处理和标绘。低电流灵敏度、测量的灵活性、开放的结构以及方便的使用使得4200-SCS型成为应用的理想选择，如单电子晶体管的I-V量测、分子电子和其它纳米器件，以及材料研究。
Zyvex的纳米控制系统系列包括灵活的且性价比高的分子研发工具，兼容扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、聚焦离子束（FIB）显微镜、光学显微镜以及探针台。这些系统使得科学家们可以在扫描电子显微镜下控制分子水平的物体。
除了对纳米技术领域测量要求的深刻理解，Zyvex带来的还有它在纳米技术领域的伙伴关系。Keithley的4200-SCS型系统与Zyvex的S100纳米控制器的结合将为开发下一代纳米结构、纳米材料、MEMS、以及其它半导体结构的科学家和工程师们提供更加全面的解决方案。
“通过汲取两个公司在不同领域的先进技术，我们将整合Zyvex的革命性的探针技术以及Keithley的低电平测量技术，以提供解决方案并拓展双方的市场，” Keithley的负责业务管理的副总裁Mark Hoersten先生评价道，“我们的工程与市场人员将共同合作为纳米技术客户提供性能强大的全新的解决方案，这是两个公司都无法单独做到的。我们有信心提供其它测量仪器供应商无法提供的测试解决方案。”
“无论你的目标是研究基于meso、micro、nano还是分子的结构，我们对于目前和将来研发需要的理解使得Zyvex在新产品商业化的过程中处于竞争优势地位，” Zyvex的运营总监Thomas A. Cellucci先生说道，“每天，我们回复来自全球各大学和行业的潜在用户的咨询，他们都要求更加灵活的科学工具及价值。此合作协议将为Zyvex和Keithley的客户提供比从前更加有效的解决方案。”
关于Keithley仪器公司。
吉时利仪器公司为无线通讯、半导体、光电和其他电子工业提供电子的和光的测试方案。全球的许多工程师和科学家都使用吉时利仪器公司先进的软硬件产品，用于过程监控、产品测试和基础研究等各个领域。
