研华「2014嵌入式测试与量测技术巡回研讨会」即将开幕

本文作者:研华       点击: 2014-06-10 14:43
前言:
2014年6月10日--嵌入式测试测量技术,以敏捷开发和智能监诊技术提升生产测试效能
研华「嵌入式测试测量软件开发与智能监诊趋势论坛」,专注于软件开发、系统集成、项目规划,以嵌入式测试&测量技术,推动物联网下智能应用的新发展。研华将于2014年6月在北京、上海、深圳三大中心城市举办盛大的巡回研讨会,诚邀业界菁英拨冗参加,期待您的加入!

对于投身制造行业的您,无论是专注于软件开发、系统集成、亦或项目规划,都需了解,在物联网架构下,嵌入式测试测量技术已成为智能应用的利器,并可有效促进制造系统的智能化。如何运用该技术进行设备监诊及预防保养以提高机台生产效能;在测试测量软件开发方面,又有怎样的新发展……在这次论坛上,我们邀请了业界重量级嘉宾与您一起深入地探讨和分享,敬请期待。


首站北京6月24日   北京歌华开元大酒店
会议议题:
时间
主题
13:30-13:40
10分钟
致欢迎词
13:40-14:20
40分钟
.NET Framework的最新发展及未来趋势&运用敏捷开发法 SCRUM 进行项目规划
14:200-15:00
40分钟
.NET Framework下快速开发量测自动化系统 DAQNavi研华新世代量测开发工具
15:00-15:20
20分钟
中场休息与摊位展示 (包括SI摊位)
15:20-16:10
50分钟
制造业创新服务之智能监控及故障预防应用趋势商机
16:10-16:50
40分钟
研华嵌入式测试与测量解决方案
16:50-17:05
15分钟
现场交流与有奖征答活动
 
 
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