2014年6月30日--2014年6月24日研华“以敏捷开发和智能监诊技术提升生产测试效能--嵌入式测试测量软件开发与智能监诊趋势论坛”首场北京站成功举办。本次研讨会以测试测量技术在智能监诊及敏捷开发等领域的应用为主要内容，探讨了.NET Framework的最新发展趋势及商机。与此同时，介绍了研华为测试测量行业提供的整体解决方案和软硬件产品。研讨会现场气氛热烈，观众在现场操作了研华最新量测产品，互动积极，深切地感受到嵌入式测试测量技术的创新应用与整体解决方案。
研华2014嵌入式测试与量测技术巡回研讨会现场图片
研讨会中，研华特邀嘉宾辛辛那提大学讲座教授&美国智能维护系统(IMS)研究中心主任李杰 教授在题为“制造业创新服务之智能监控及故障预防应用趋势商机”的报告中，为广大的制造业及相关测试测量行业应用者形象地阐述了智能监控与故障预防应用的新趋势及潜在商机。随后，拥有逾30年的软件开发工作资历，专注于微软各项新技术的研究，微软Windows Azure云端及其它新开发技术的指定讲师李智桦 先生在题为“.NET Framework的最新发展及未来趋势&运用敏捷开发法 SCRUM 进行项目规划”的报告中，以诙谐幽默的方式，结合最新上映影片生动地剖析了敏捷开发法的四大规律，整个演讲生动而精彩，现场反响热烈。
美国智能维护系统(IMS)研究中心主任 李杰 教授 微软指定讲师 李智桦 先生
接下来的6月26日上海站，6月27日深圳站的研华2014嵌入式测试与量测技术巡回研讨会也圆满落幕。衷心感谢每一位到场的业界先进、高层及媒体朋友，我们期盼透过此次全球巡回研讨会，让您更多的了解到嵌入式测试测量技术的行业应用及敏捷开发和智能监诊技术相关前景与商机。
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