意法半导体 (ST) 推出新抗辐射基准电压芯片,在各种工作条件下实现稳定可靠的性能

本文作者:意法半导体 (ST)       点击: 2014-10-27 17:44
前言:
2014年10月27日--意法半导体积极开发与航天应用相关的抗辐射产品组合,推出两款并联式基准电压芯片(shunt Voltage References)。RHF1009A是一款可在2.5V至5.5V范围内调整电压的基准电压芯片;而RHF100则是一款维持1.2V固定电压的基准电压解决方案。这两款基准电压芯片特别为航天应用领域设计,具有可抵抗强烈太空辐射的高耐受度,引脚与市面上的同类工业标准的产品相容。两款产品均已通过了美国航天局 (DLA) 的 QML-V 认证,并因其稳定优秀的性能,被正式收入欧洲航天元器件优选目录 (EPPL, European Preferred Parts List) ,可供欧洲航天硬件及相关设备厂商选购。

 
两款器件都采用意法半导体的250nm BiCMOS 制造技术,此项技术的高可靠性经过多年量产的消费性电子芯片和要求更严格的航天、汽车和医疗设备芯片以及其他抗辐射产品(如模数转换器)的检验。

这两款器件具有多项优异性能,包括仅5 ppm (典型值)的温度系数,经由激光校对可达 +/- 0.15% 的精确度,以及器件之间卓越的温度曲线匹配性;而宽达40µA至12mA的阴极电流范围,可确保在维持灵活性的同时保证精确度和稳定性。  
除优异的电气性能外,两款新产品还兼具同级最佳的抗电离总剂量 (TID, Total Ionization Dose) 和单粒子效应 (SEE, Single Event Effect) 的抗辐射性能,无ELDRS  效应高达 300krad  (在剂量率达到很高水平时,芯片的主要参数仍可保持稳定),完全不受单粒子闭锁效应 (Latch-up) 的影响 (在120 MeV.cm2/mg / 125°C下仍不发生单粒子闭锁效应),发生单粒子瞬变效应的概率极低 (截面SET Cross section < 3.10-4) 。辐射效应持续时间极短,且幅度很低。

新产品在欧洲设计、并在取得认证后开始制造,配有大量的定性数据、全套宏单元 (Pspice, Eldo, ADS) 和演示板。 


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