是德科技最新在线、功能和边界扫描测试解决方案参展 NEPCON China 2015

本文作者:是德科技       点击: 2015-04-20 15:40
前言:
2015年4月20日--是德科技旗下最新在线、功能和边界扫描测试解决方案将参展于 4 月 21 日至 23 日在上海世博展览馆举行的第二十五届中国国际电子生产设备暨微电子工业展(NEPCON)。NEPCON China是目前亚洲地区规模最大的SMT行业盛会之一,也是亚洲地区规模最大的国际性电子制造专业盛会之一。在本次展会期间,是德科技的技术专家和高级工程师将为您全方位的展示最新产品和解决方案:

 i3070 系列 5 和系列 Series 5i 在线测试系统软件版本 09.00p。09.00p 是一个重要版本:全新特性能够提升电路板测试效率,新的测试计划编辑器可以改善程序开发体验。展会期间,是德科技将提供亲身体验环节,以便参观者感受新版软件全新的界面和用户体验。
 M9188A PXI +30V/20mA 动态数模转换器。新模块无需定制前端电路,具有出色的动态范围和精度,非常适合汽车、航空航天与国防以及工业测试应用。
 EDN 杂志评选的 2014 年最佳测试产品——通用 Keysight x1149 台式边界扫描分析仪。x1149 提供极高的测试周转速度和广泛的测试功能,全面覆盖从设计与验证到新产品引进与批量生产的整个流程。x1149 演示将包括智能手机测试应用。
 Keysight Mini ICT——通用解决方案,适合不同阶段的产品测试应用,包括功能测试与维修。Mini ICT 可以与广泛的产品配合使用,以构建不同尺寸的解决方案,包括是德科技墨西哥渠道合作伙伴 Interlatin 的盒式 ICT 解决方案以及 IPTE 的 19 英寸自动在线测试平台。

如需了解更多信息,请访问
www.keysight.com/find/ictwww.keysight.com/find/automotive

欢迎莅临是德科技展位:上海世博展览馆1号馆1G59

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