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试验A |
工作寿命测试(+125°C,5.5 V,1000小时) |
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机械验证测试(X射线,尺寸,丝印,引线完整性) |
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储存寿命测试(+150°C,无偏压,1000小时) |
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温度循环测试(-55°C至+125°C,1000次循环) |
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偏压温度湿度测试(+85°C,85%相对湿度,5.5 V,1000小时) |
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无偏压防潮测试(85°C,85%相对湿度,1000小时) |
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试验B |
机械寿命测试(冲击试验200 g,30次循环),然后进行温度循环测试(–55°C至+125°C,1000次循环) |
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机械寿命测试(振动10 g,x、y、z轴5 Hz至2 kHz,30小时),然后进行偏压温度湿度测试(+85°C,85%相对湿度,5.5 V,1000小时)。 |
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1024位1-Wire EEPROM |
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受保护的1 kb 1-Wire EEPROM,采用SHA-1引擎 |
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受保护的1 kb 1-Wire EEPROM,采用SHA-1引擎 |
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1-Wire EEPROM |
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DeepCover®安全认证器,具有1-Wire SHA-256和512位用户EEPROM |
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DeepCover安全认证器,具有1-Wire SHA-256和4 kb用户EEPROM |
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DeepCover安全认证器,具有1-Wire ECDSA和1 kb用户EEPROM |
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1-Wire 4 kb EEPROM |
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1024位1-Wire EEPROM |
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具有ChipDNA® PUF保护的DeepCover安全ECDSA认证器 |
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具有ChipDNA PUF保护的DeepCover安全SHA-3认证器 |
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DeepCover耐辐射1-Wire安全认证器 |
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