NI发布2011自动化测试技术展望

本文作者:admin       点击: 2011-04-15 00:00
前言:
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日发布了《2011自动化测试技术展望》,就影响测试测量的技术与方法发表了研究结果。该报告所阐述的发展趋势覆盖了消费电子、汽车、半导体、航空航天、医疗设备和通信等众多产业,帮助工程师和企业管理人员利用最新策略和最佳实践案例,优化测试组织架构。

《2011自动化测试技术展望》以学术和工业研究、网上论坛、问卷调查、商业咨询、客户反馈等多种形式广泛进行调查,提出了下一代测试测量行业的发展趋势,以应对该行业所存在的商业与技术挑战。报告从四个方面进行了阐述:

-- 测试资源整合:将设计验证和生产测试的资源整合在一起,需要重视人力资源、流程控制和技术等方面的革新。

-- 系统软件栈:一个高度集成的软件架构可以提升测试性能,并缩短开发时间时间。

-- 异质计算:未来的测试系统将会需要不同类型的运算节点,来满足愈加严格的数据分析与处理要求。

--IP to the Pin:在设计与测试阶段共享FPGA IP可显著缩短对设计进行验证测试的时间,提高产品测试的效率和故障检测覆盖率。

阅读2011自动化测试技术展望,读者可访问http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/12694。

关于NI
30多年来,美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战。通过现成可用的软件,如LabVIEW, 以及高性价比的模块化硬件,NI帮助各领域的工程师不断创新,在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今,NI为遍布全球各地的30,000家不同的客户提供多种应用选择。NI总部设于美国德克萨斯州的奥斯汀市,在40个国家中设有分支机构,共拥有5,200多名员工。了解更多NI专业产品及服务信息, 敬请访问ni.com/china