提供从设计到生产全套测试解决方案的供应商科利登系统推出用于新型非挥发性存储器器件的Kalos 2测试系统，并开始大规模量产。基于科利登创新的片上测试系统（Tester-on-a-Chip™ ，ToC）结构，Kalos 2提供了降低测试成本所需的测试系统在性能、灵活性和效率方面理想的组合，同时也保证了最大产能和更快的器件量产时间。Kalos 2最大的有效数据频率可达200MHz，为NVM器件（如NOR、 NAND、串行闪存和嵌入式闪存）智能卡以及带有大量闪存阵列和数字逻辑电路的高度集成器件的测试提供了极佳的性能。
Kalos 2与Personal KalosTM 2 （PK2，专为先进NVM器件设计的第一台工程测试系统。）的硬件和软件完全兼容。制造商可以很容易的将工程试验室中在PK2上开发的测试程序转移到Kalos 2上进行量产，保证了工程验证到量产的顺利过渡。这种兼容性极大缩短了新器件的面市时间同时也保护了设备方面的资本投入。
Kalos 2有大量可升级的测试资源，通过提供并行测试能力，使制造商可以扩大产能。系统的ToC结构保证了测试主板上两个48-pin的测试单元有完全独立的测试资源。通过对并行被测器件完全独立的测试，测试系统显著地缩短了测试时间，从而缩短的器件的获利时间。为了满足高速NVM器件特殊的需要，Kalos 2提供了100MHz的向量发生能力，在复用模式下可以产生200MHz和400MHz的波形。
Kalos 2的最大并行能力可达72-site，每个并行被测器件都有完整的测试资源。每个管脚都可编程且相互独立，可以通过软件将其配置成输入或双向通道。工程师可以用软件编程实现测试资源配置，使系统可以进行48，96, 192, 384 ，最多到 768个 I/O管脚的器件测试。这种灵活性与每个通道32M的向量存储深度增强了Kalos 2的能力，使其可以对需要算法向量发生器（APG，用于存储器测试）和逻辑向量发生器或扫描功能（用于数字逻辑测试）的大量器件进行测试。系统还提供每个并行被测器件独立的编程能力，算法向量发生器，测试仪控制器CPU，数据缓存(DBM)，实时错误捕获随机存储器（ECR），参数测量单元（PMU）和冗余分析(RA)。
科利登的专利ToC结构使其能够将高速I/O通道，向量生成能力和用于闪存及嵌入式闪存、逻辑器件测试的高效存储器接口集成到单片芯片。通过利用科利登在CMOS设计和工艺技术方面的经验，这一结构在单个芯片上集成了完整的数字系统，减少了芯片间的延迟，提高了系统级的可靠性。通过将数字向量发生器和时序发生器集成到一片芯片，ToC结构降低了系统成本，并增强了系统性能。
Kalos 2与Personal KalosTM 2 （PK2，专为先进NVM器件设计的第一台工程测试系统。）的硬件和软件完全兼容。制造商可以很容易的将工程试验室中在PK2上开发的测试程序转移到Kalos 2上进行量产，保证了工程验证到量产的顺利过渡。这种兼容性极大缩短了新器件的面市时间同时也保护了设备方面的资本投入。
Kalos 2有大量可升级的测试资源，通过提供并行测试能力，使制造商可以扩大产能。系统的ToC结构保证了测试主板上两个48-pin的测试单元有完全独立的测试资源。通过对并行被测器件完全独立的测试，测试系统显著地缩短了测试时间，从而缩短的器件的获利时间。为了满足高速NVM器件特殊的需要，Kalos 2提供了100MHz的向量发生能力，在复用模式下可以产生200MHz和400MHz的波形。
Kalos 2的最大并行能力可达72-site，每个并行被测器件都有完整的测试资源。每个管脚都可编程且相互独立，可以通过软件将其配置成输入或双向通道。工程师可以用软件编程实现测试资源配置，使系统可以进行48，96, 192, 384 ，最多到 768个 I/O管脚的器件测试。这种灵活性与每个通道32M的向量存储深度增强了Kalos 2的能力，使其可以对需要算法向量发生器（APG，用于存储器测试）和逻辑向量发生器或扫描功能（用于数字逻辑测试）的大量器件进行测试。系统还提供每个并行被测器件独立的编程能力，算法向量发生器，测试仪控制器CPU，数据缓存(DBM)，实时错误捕获随机存储器（ECR），参数测量单元（PMU）和冗余分析(RA)。
科利登的专利ToC结构使其能够将高速I/O通道，向量生成能力和用于闪存及嵌入式闪存、逻辑器件测试的高效存储器接口集成到单片芯片。通过利用科利登在CMOS设计和工艺技术方面的经验，这一结构在单个芯片上集成了完整的数字系统，减少了芯片间的延迟，提高了系统级的可靠性。通过将数字向量发生器和时序发生器集成到一片芯片，ToC结构降低了系统成本，并增强了系统性能。
