富士通半导体与SuVolta展示~0.4伏超低电压工作的SRAM

本文作者:admin       点击: 2011-12-07 00:00
前言:

富士通半导体有限公司和SuVolta,Inc今日宣布,通过将SuVolta的PowerShrink™低功耗CMOS与富士通半导体的低功耗工艺技术集成,已经成功地展示了在0.425V超低电压下,SRAM(静态随机存储)模块可以正常运行。这些技术降低能耗,为即将出现的终极“生态”产品铺平道路。技术细节和结果将会在12月5日开始在华盛顿召开的2011年国际电子器件会议(IEDM)上发表。

从移动电子产品到因特网共享服务器,以及网络设备,控制功耗成为增加功能的主要限制。而供应电压又是决定功耗的重要因素。之前,CMOS的电源电压随着器件尺寸减小而稳定下降,在130nm技术结点已降至大约1.0V。但在那之后,技术结点已缩小到28nm,电源电压却没有随之进一步降低。电源供应电压降低的最大障碍是嵌入的SRAM模块最低工作电压。

结合SuVolta的Deeply Depleted Channel™ (DDC)晶体管技术 – 该公司的PowerShrink™平台组件之一 – 与富士通半导体的尖端工艺,两家公司已经证实通过将CMOS晶体管临界电压(VT)的波动降低一半,576Kb的SRAM可在0.4伏附近正常工作。该项技术与现有设施匹配良好,包括现有的芯片系统(SoC)设计布局,设计架构比如基体偏压控制,以及制造工具。

背景
遵循微缩定律,在130nm技术结点CMOS电源供应电压逐步降低到大约1.0V。但是,尽管工艺技术已经由 130nm继续缩小到28nm,电源电压却还保持在1.0V左右的水平。由于动态功率与供应电压的平方成正比,能耗已经成为CMOS技术的主要问题。电压降低止步于130nm结点的原因是多处波动来源,包括随机杂质扰动(RDF)。RDF是器件及工艺波动的一种形式,由注入杂质浓度或晶体管通道内掺杂原子 的扰动引起。RDF导致同一芯片上不同晶体管的临界电压(VT)出现偏差。

已见报道的两种特殊结构可以成功减小RDF:ETSOI和Tri-Gate – FinFET技术的一种。但是,这两种技术都非常复杂,使得他们很难与现有设计和制造设施匹配。

关于富士通半导体有限公司
富士通半导体从事半导体设计、制造及销售事业,提供高度可靠的最佳解决方案与支援服务,以满足客户的各种需求。产品与服务包括微控制器、ASIC、ASSP 及电源管理 IC,在行动运算、生态、汽车、影像、安全、及高效能应用方面拥有广泛的专业技术。富士通半导体亦致力於推动电源效率及环保活动。富士通半导体(原名富士通微电子有限公司)总部设於日本横滨,於 2008 年 3 月 21 日成为富士通集团的子公司。富士通半导体透过其全球销售及开发网络,并於日本及亚洲、欧洲及美洲各地设立据点,为全球市场提供半导体解决方案。如需详细资讯,请浏览:http://jp.fujitsu.com/fsl/n/。

关于SuVolta
SuVolta公司致力于开发和授权能够有效降低IC功耗并同时保持运行性能的可微缩半导体技术。SuVolta公司总部位于硅谷,工作团队中包含了世界一流的工程师和科学家,公司在技术开发和创新方面具有悠久的历史,推动半导体行业的进步与发展。SuVolta公司获得了包括Kleiner Perkins Caufield & Byers  (KPCB),August Capital以及NEA等风险投资公司的支持。欲了解更多信息,请访问www.suvolta.com